[1]
Куценко, А.С. і Марченко, И.И. 2012. Математическое моделирование изменения толщины оксидного пленки при низкоэнергетическом ионном азотировании. Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Системний аналiз, управління та iнформацiйнi технологiї. 30 (Чер 2012), 7–10. DOI:https://doi.org/10.20998/%x.