ЛЕБЕДЕВА, Е. Ю.; ЛЕБЕДЕВ, Ю. Ф. Исследование метрик используемых при обнаружении клонированных участков изображений в задачах выявления фальсификации. Вісник Національного технічного університету «ХПІ». Серія: Системний аналiз, управління та iнформацiйнi технологiї, [S. l.], n. 35, p. 25–31, 2011. DOI: 10.20998/%x. Disponível em: http://samit.khpi.edu.ua/article/view/61399. Acesso em: 4 трав. 2024.