Лебедева, Е. Ю., and Ю. Ф. Лебедев. “Исследование метрик используемых при обнаружении клонированных участков изображений в задачах выявления фальсификации”. Bulletin of National Technical University "KhPI". Series: System Analysis, Control and Information Technologies, no. 35 (November 29, 2011): 25–31. Accessed November 22, 2024. http://samit.khpi.edu.ua/article/view/61399.